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WP1型平面光栅摄谱仪是在200nm-800nm波段范围内作发射光谱分析的仪器。广泛地应用于地质、冶金、机械、石油化工等部门作光谱定量和定性分析。
平面反射光栅技术参数
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光栅线数
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1200条/毫米
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1200条/毫米
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有效面积
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50×30毫米
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50×30毫米
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闪耀波长
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300nm
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570nm
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色散 nm/mm
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一级
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二级
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一级
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二级
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0.8
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0.8
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0.4
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理论分辨本领
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6×104
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6×104
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12×104
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适用工作波段
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200nm-600nm
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400nm-800nm
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200nm-400nm
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仪器特点
● 光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置，慧差及象散可矫正到理想程度，在较长谱面范围内谱线清晰，结构均匀。
● 仪器采用三透镜消色差照明方法，狭缝获得均匀照明，使同一条谱线黑度均匀。
● 仪器缝前的哈特曼光栏盘上设置哈特曼及三阶，九阶减光板。
● 使用控制箱控制摄谱过程。
● 仪器配备直流电弧，交流电弧光源，以适应不同分析任务的需要。
● 仪器配置工作台，安装和操作方便。
技术参数
● 工作波段 200nm-800nm
● 仪器焦距 f=1050nm
● 谱板尺寸 240×90nm
● 相对孔径 D/f=1：25
● 狭缝指标 变化范围0.003-0.3mm
手轮格值 0.001mm
缝宽重复性 0.001mm
● 外形尺寸（包括导轨） 1350mm×1230mm×420mm
● 主机重量 80kg
仪器成套性
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名称
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单位
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数量
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摄谱仪主机
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台
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1
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仪器工作台
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套
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1
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交直流电弧发生器
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台
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1
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